通过收集分析高能电子束与样品相互作用之后释放的电子或光谱信息（包括透射电子、X射线），不仅可以得到高分辨率图像，而且获得样品在微米级和纳米级的结构和成分信息。该设备集微区晶体结构、成分及微区形貌结构图像测试技术于一身，主要应用于观察物质内部的超微结构、成分分析及粒径测定等。 

隶属实验室：南京大学内生金属矿床成矿机制研究国家重点实验室