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科研成果 概况介绍 获奖 论文 专著 专利 研究亮点   您现在的位置：首页 > 科研成果 > 专利 专利名称: 一种用于磁通门磁芯性能检测装置 专利名称_英文: 专利类别: 实用新型 申请号: 201721311130.2 专利号: ZL201721311130.2 申请日期: 发明人: 杜爱民,赵琳,孙树全,曹馨,冯晓,李智 其他发明人_英文: 国外申请日期: 国外申请方式: 国外申请方式_英文: 专利授权日期: 2018-5-15 缴费情况: 缴费情况_英文: 实施情况: 实施情况_英文: 专利权人: 其他备注_英文: 专利证书号: 专利摘要: 专利摘要_英文: 国外授权日期:

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