仪器名称：场发射扫描电子显微镜 -Nova NanoSEM 450

　　生产厂家：美国FEI公司 

　　引进时间：2015年11月 

　　主要技术指标： 配备了超高强度Schottky场发射灯丝、极靴内二次电子探测器 （TLD-SE）、极靴内背散射电子探测器 （TLD-BSE）、样品室二次电子信号检测器（ETD）、可伸缩式定向背散射电子探测器（DBS）、低真空二次电子探测器（LVD）、低真空超高分辨率二次电子探测器 （Helix）、低真空超高分辨率背散射电子探测器（GAD）、样品室红外CCD探测器 （IR-CCD）和样品导航光学显微镜探测器 （Nav-Cam）。 

　　电子束分辨率：在高真空条件下可达1.0 nm，在低真空条件下可达1.5 nm。 

　　主要功能及应用：  

　　    实现高低真空下固体样品超高分辨率的微观形貌观察和分析，通过配置的X射线能谱仪（型号X-MAXN80）接收特征X信号，能快速进行样品元素高精度的点、线、面扫描分析；实际样品测试元素范围 Be–U。通过配置的Gatan公司CL阴极发光光谱仪（型号MonoCL4）可得全光影像、单光影像及谱图，可对锆石、斜锆石、石英、金刚石、独居石、榍石、磷灰石等矿物进行CL图像的观察分析。 

　　机组人员：