网站地图│联系我们│所长信箱│办公信息系统│English│中国科学院
 
 
首页 │ 概况简介 │ 机构设置 │ 研究队伍 │ 科研成果 │ 实验观测 │ 合作交流 │ 研究生教育 │ 学会学报 │ 图书馆 │ 党群工作 │ 创新文化 │ 科学传播 │ 信息公开
  合作交流
  您现在的位置:首页 > 合作交流 > 国际交流
第五届中国二次离子质谱学会议在我所召开
2014-10-27 | 作者:科技支撑处 | 【大 中 小】【打印】【关闭】

  2014年10月18至21日,第五届中国二次离子质谱学会议在我所召开。本次会议由中国矿物岩石地球化学学会微束分析测试专业委员会发起,我所岩石圈演化国家重点实验室承办,来自国内外39个单位的150余位代表参加了大会。 

  为了让大家对二次离子质谱学有一个全面的了解,10月18日,大会组委会邀请了北京清华大学的查良镇教授、我所林杨挺研究员和李秋立研究员、香港科技大学的翁禄涛教授、台北医科大学的麦富德教授、新竹清华大学的凌永健教授就二次离子质谱学的原理以及其在地学、材料学及生物医学方面的应用做了会前讲座,受到了参会代表、青年科研人员和研究生热烈的欢迎。 

  10月19日上午,第五届中国二次离子质谱学会议在我所二楼报告厅正式开幕。李献华研究员主持开幕式。我所所长、岩石圈演化国家重点实验室主任朱日祥院士致辞,他强调了二次离子在地球科学研究中的作用。大会特邀英国国家物理实验室的Ian Gilmore教授,德国ION-TOF公司的Sven Kayse博士,中国地质科学院地质研究所刘敦一研究员,我所李献华研究员,中国科学院化学研究所的汪福意研究员就SIMS的前沿研究成果做了精彩的报告。 

  会议期间,来自中国大陆、港台地区以及海外从事二次离子质谱技术和应用的专家、学者和研究生一共做了44场学术报告,与会代表就二次离子质谱的仪器研制、新技术、新方法研发和应用进行了广泛的交流。 

  第六届中国二次离子质谱学会议将于2016年在中国科学院大连化学物理研究所召开。 

   

 
地址:北京市朝阳区北土城西路19号 邮 编:100029 电话:010-82998001 传真:010-62010846
版权所有© 2009- 中国科学院地质与地球物理研究所 京ICP备05029136号 京公网安备110402500032号